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ERICHSEN233干膜測厚儀

Eri233干膜測厚儀.pdf

應用
在所有平面上
測試原理
涂層上表面和暴露基材區(qū)域間的高度差（D） 通過表盤下自由移動的插針(1)測量，兩個支腳(2) 置于涂層表面
設計和功能
表盤儀器密閉在一鍍鉻的金屬殼中。支腳從 儀器底部伸出，插針有保護套。保護套一側的槽 用于調節(jié)插針，插針通過一塊玻璃板的平面調節(jié)， 此配件包括在供貨范圍中。帶附件的表盤裝在一 個盒子中。
測量程序
1) 設置 2) 測量點準備 3) 測量 在所有平面上
 涂層上表面和暴露基材區(qū)域間的高度差（D） 通過表盤下自由移動的插針(1)測量，兩個支腳(2) 置于涂層表面（圖1）。
 表盤儀器密閉在一鍍鉻的金屬殼中。支腳從 儀器底部伸出，插針有保護套。保護套一側的槽 用于調節(jié)插針，插針通過一塊玻璃板的平面調節(jié)， 此配件包括在供貨范圍中。帶附件的表盤裝在一 個盒子中。
 取下保護罩，將儀器垂直放在玻璃板平面上，如果指針讀數(shù)不為零，可以通過保護套中的槽調 節(jié)，直至指針達到零位，。
 在測量點處，涂層需被小心刮開一個3mm的區(qū)域，直至達到基材。
 將儀器放在測量區(qū)域上，使插針接觸到裸露基材，干膜厚度能直接讀出，單位m。
 如果是柔軟涂層，可在支腳下墊一塊剃刀。